50,8 mm/100 mm AlN šablona na NPSS/FSS AlN šablona na safirju

Kratek opis:

AlN-na-safirju se nanaša na kombinacijo materialov, pri katerih so aluminijevi nitridni filmi vzgojeni na safirnih substratih. Pri tej strukturi je mogoče visokokakovosten aluminijev nitridni film vzgojiti s kemičnim nanašanjem iz pare (CVD) ali organometričnim kemičnim nanašanjem iz pare (MOCVD), zaradi česar sta aluminijev nitridni film in safirni substrat dobro združena. Prednosti te strukture so, da ima aluminijev nitrid visoko toplotno prevodnost, visoko kemijsko stabilnost in odlične optične lastnosti, medtem ko ima safirni substrat odlične mehanske in toplotne lastnosti ter prosojnost.


Podrobnosti o izdelku

Oznake izdelkov

AlN-na-safirju

AlN-na-safirju se lahko uporablja za izdelavo različnih fotoelektričnih naprav, kot so:
1. LED čipi: LED čipi so običajno izdelani iz aluminijevih nitridov in drugih materialov. Učinkovitost in stabilnost LED diod je mogoče izboljšati z uporabo rezin AlN na safirju kot substrata LED čipov.
2. Laserji: Rezine AlN na safirju se lahko uporabljajo tudi kot substrati za laserje, ki se pogosto uporabljajo v medicini, komunikacijah in obdelavi materialov.
3. Sončne celice: Izdelava sončnih celic zahteva uporabo materialov, kot je aluminijev nitrid. AlN na safirju kot substrat lahko izboljša učinkovitost in življenjsko dobo sončnih celic.
4. Druge optoelektronske naprave: Rezine AlN na safirju se lahko uporabljajo tudi za izdelavo fotodetektorjev, optoelektronskih naprav in drugih optoelektronskih naprav.

Skratka, rezine AlN-na-safirju se pogosto uporabljajo na optoelektričnem področju zaradi visoke toplotne prevodnosti, visoke kemijske stabilnosti, nizkih izgub in odličnih optičnih lastnosti.

50,8 mm/100 mm AlN šablona na NPSS/FSS

Predmet Opombe
Opis Predloga AlN-na-NPSS Predloga AlN-na-FSS
Premer rezine 50,8 mm, 100 mm
Podlaga NPSS v ravnini c c-ravninski planarni safir (FSS)
Debelina podlage 50,8 mm, 100 mm c-ravnina planarni safir (FSS) 100 mm: 650 um
Debelina epi-sloja AIN 3~4 µm (cilj: 3,3 µm)
Prevodnost Izolacija

Površina

Kot gojeno
RMS < 1 nm RMS < 2 nm
Zadnja stran Zmleto
FWHM(002)XRC < 150 ločnih sekund < 150 ločnih sekund
FWHM(102)XRC < 300 ločnih sekund < 300 ločnih sekund
Izključitev robov < 2 mm < 3 mm
Primarna ravna orientacija a-ravnina + 0,1°
Primarna dolžina ploščatega dela 50,8 mm: 16 +/- 1 mm 100 mm: 30 +/- 1 mm
Paket Pakirano v transportni škatli ali posodi za posamezne rezine

Podroben diagram

Predloga FSS AlN na safirju3
Predloga FSS AlN na safirju4

  • Prejšnje:
  • Naprej:

  • Napišite svoje sporočilo tukaj in nam ga pošljite